Print ISSN 1561-9443
On-line ISSN 1561-9451 |
|
| |
1-1(73)  2012
- Предыдущий |
Следующий
- В.И. Сырямкин, А.Ж. Казтаев, Д.С. Жданов, В.В. Бразовский, Г.С. Глушков, С.И. Бурмантов, С.О. Лунев, В.А. Бородин
Метрологическое обеспечение цифровых рентгеновских микротомографов
Рассмотрены основные принципы работы разрабатываемого рентгеновского дефектоскопа (применимые к рентгеновскому томографу), проведен анализ современного состояния нормативной и законодательной базы метрологического обеспечения рентгеновского микротомографа.
Ключевые слова: метрологическое обеспечение, методы поверки, рентгеновский микротомограф, средства неразрушающего контроля, стандартизация.
Полный текст в формате PDF, 232Kb. Язык: русский.
СЫРЯМКИН Владимир Иванович доктор технических наук, профессор, директор МУИПЦ "Технологический менеджмент" Томского государственного университета E-mail: ggs_1982@mail.ru
КАЗТАЕВ Айдос Жасланович инженер-технолог ООО "Интеллектуальные информационные системы" (Томск) E-mail: k700traktor@yandex.ru
ЖДАНОВ Дмитрий Сергеевич инженер-программист отдела оптических систем Научно-исследовательского института полупроводниковых приборов (Томск) E-mail: d_s_Zhdanov@mail.ru
БРАЗОВСКИЙ Василий Владимирович доцент, кандидат технических наук, руководитель группы ЦНК Научно-исследовательского института интроскопии Томского политехнического университета (Томск) E-mail: altaikompozit@mail.ru
ГЛУШКОВ Глеб Сергеевич инженер-программист отдела оптических систем Научно-исследовательского института полупроводниковых приборов (Томск) E-mail: ggs_1982@mail.ru
БУРМАНТОВ Сергей Игоревич техник-программист отдела оптических систем Научно-исследовательского института полупроводниковых приборов (Томск) E-mail: burmantov1989@mail.ru
ЛУНЕВ Сергей Олегович техник-программист отдела оптических систем Научно-исследовательского института полупроводниковых приборов (Томск) E-mail: burmantov1989@mail.ru
БОРОДИН Владимир Алексеевич аспирант факультета прикладной математики и кибернетики Томского государственного университета, инженер-программист отдела оптических систем Научно-исследовательского института полупроводниковых приборов (Томск) |
|
